Burkov A.A. 2019 Vol. 21 No. 4

OBRABOTKAMETALLOV Vol. 21 No. 4 2019 23 TECHNOLOGY а б Рис. 4. СЭМ-изображения поперечного сечения покрытий МG 2,5 ( а ), МG 9.3 ( в ) и распределение эле- ментов по толщине соответствующих покрытий ( б , г ); желтая пунктирная линия обозначает место скани- рования; на рисунке ( д ) показан МРС-спектр к рисунку ( в ), где черной стрелочкой указан участок съемки Fig. 4. SEM images of cross section of the coatings MG 2,5 ( a ), MG 9,3 (в) and the distribution of elements in thickness of the respective coatings ( б , г ); the yellow dashed line indicates the location of the scan; figure ( д ) shows the EDS spectrum for figure ( в ), where the black arrow indicates the area of the survey д в г