The study of characteristics of the structure of metallic alloys using synchrotron radiation computed laminography (Research Review)

OBRABOTKAMETALLOV Vol. 24 No. 4 2022 225 MATERIAL SCIENCE а б Рис. 6. Области обратного пространства, полученные с использованием преобразования Фурье: а – SRCT-сканирование; б – SRCL-сканирование. Конусы недостающей информации обозначены синим цветом [2] Fig. 6. Reciprocal space regions obtained using the Fourier transform: a – SRCT-scan; б – SRCL-scan. Cones of missing information are marked in blue [2] SRCL является фактором, обеспечивающим высокое пространственное разрешение вплоть до микронного и субмикронного масштаба. Максимальное разрешение метода определяется характеристиками используемого детектора. С помощью наноламинографии получены изображения с разрешением ~ 100 нм [15]. В тех случаях, когда пространственное разрешение не является определяющим требованием, может быть применен метод нейтронной ламинографии, достоинством которого является чувствительность к химическим элементам, отличная от рентгеновских лучей. Особенности адаптации метода ламинографии для нейтронной визуализации представлены в работе [12]. Сравнение методов ламинографии и томографии Метод дополненной ламинографии (Augmented laminography) Посредством метода компьютерной ламинографии реализуется изотропная схема сканирования луча, которая осуществляет одинаковое разрешение и чувствительность (resolution and sensitivity) в направлениях, перпендикулярных оси вращения. Как упоминалось ранее, эта особенность, характерная для метода КЛ, дает отличные результаты по сравнению с методом КТ с ограниченным углом. Преимущества схемы компьютерной ламинографии заключаются в следующем: 1) полный поворот на 360° доступен даже для крупногабаритных образцов; 2) постоянный наклон образца при выполнении анализа обеспечивает близкое среднее значение интенсивности прошедшего излучения; 3) вращательная симметрия доступной области Фурье является фактором, способствующим дальнейшему восстановлению изображения. Отмеченные преимущества продемонстрированы в работе Feng Xu с соавторами [3]. В тех случаях, когда при реализации метода КТ возникает предельный угол, после которого изображение образца получить не удается, может быть использован метод КЛ. Отмечается, что артефакты изображения поверхности образца в направлении нормали к движению рентгеновского излучения при реализации метода КТ ограничивают достижимое разрешение в большей степени, чем в методе КЛ. Кроме того, при реализации компьютерной томографии неизотропные артефак-

RkJQdWJsaXNoZXIy MTk0ODM1