OBRABOTKAMETALLOV Vol. 26 No. 3 2024 225 MATERIAL SCIENCE оптических поверхностей (не параллельных друг другу). Один из примеров реализации такой схемы представлен в работе [60] (рис. 31). В работе [61] представлен монохроматор, работа которого предполагает отражение на четырех кристаллах (рис. 32). Рис. 31. Принципиальная схема монохроматора-спектрографа. Взято из работы [60] Fig. 31. Principle scheme of the monochromator-spectrograph. Taken from [60] Рис. 32. Схема высокоразрешающего монохроматора. По работе [61] Fig. 32. Schematic of a high-resolution monochromator. Based on [61] Заключение Анализ особенностей строения материалов различной природы является одной из наиболее важных задач, решаемых в настоящее время научным сообществом. Такие задачи во множестве возникают в современном материаловедении, физике, химии, геологии, биологии, медицине, фармакологии и археологии. К наиболее сложным относятся задачи, связанные с изучением быстропротекающих структурных преобразований в материалах на разных стадиях их обработки. Успешность решения таких задач в значительной степени зависит от технических характеристик используемого специалистами научного оборудования. Разработанные в течение ХХ века методы исследования позволяют получать информацию, часто уникальную, о строении материалов на разных масштабных уровнях. Из совокупности наиболее информативных методов изучения материалов следует особо выделить методы рентгеноструктурного анализа, разработанные на основе работ В.К. Рентгена, Макса фон Лауэ, отца и сына Брэггов. В последние десятилетия эти методы эффективно развиваются при решении задач на источниках синхротронного излучения. В соответствии с национальным проектом «Наука и университеты» в России будут созданы современные источники синхротронного излучения СИЛА (Московская область, Протвино) и РИФ (Владивосток, остров Русский). В конце 2024 года в Новосибирске (Кольцово) в опытную эксплуатацию должен быть запущен специализированный источник синхротронного излучения поколения 4+ СКИФ.
RkJQdWJsaXNoZXIy MTk0ODM1