Actual Problems in Machine Building 2016 No. 3

Актуальные проблемы в машиностроении. 2016. №3 Материаловедение в машиностроении ____________________________________________________________________ 401 Расчет прецизионных параметров облученных механоактивированных образцов, показал, что их структурное состояние меняется с ростом доз и временем воздействия гамма- квантов (табл. 1, 2), с увеличением набора доз происходит стабилизация кристаллических решеток компонентов. У титана параметры решетки изменяются линейно в сторону увеличения, у алюминия при малых временах и дозах происходит сжатие решетки. После воздействия облучения с дозой 2*10 6 рад, параметры решетки и объем обоих компонентов приближаются к параметрам решеток исходных образцов до механоактивации, что коррелируется с увеличением интенсивностей отражений на дифрактограмме. Таблица 1 Структурные параметры и объем кристаллических решеток Ti в порошковой смеси на всех этапах эксперимента Параметры ячейки Ti Эталон Ti * Sys:Hexagonal исходный порошок после МА7 мин. γ-облуч. 2*10 5 рад, t=30 мин. γ-облуч. 5*10 5 рад, t=72 мин. γ-облуч. 1*10 6 рад, t=150 мин. а, (А) 2,9547 2,9295 2,9469 2,9527 2,9554 2.9505 b, (A) 2,9547 2,9295 2,9469 2,9527 2,9554 2.9505 с, (А) 4,6938 4,7233 4,6702 4,6779 4,6826 4.6826 V, (A 3 ) 35,490 35,107 35,125 35,320 35,421 35.3 * (44-1294) ICDD Grant-in-Aid, Sailer, R., McCarthy, G., North Dakota State University, Fargo, North Dakota, USA., 1993 (База данных порошковой дифрактометрии PDWin 3.0). Таблица 2 Структурные параметры и объем кристаллических решеток Al в порошковой смеси на всех этапах эксперимента Параметры ячейки Al Эталон Al * Sys:Cubic исходный порошок после МА 7 мин. γ-облуч. 2*10 5 рад, t=30 мин. γ-облуч. 5*10 5 рад, t=72 мин. γ-облуч. 1*10 6 рад, t=150 мин. а, (А) 4,0548 4,05123 4,0456 4,0482 4,0530 4,0494 b, (A) 4,0548 4,05123 4,0456 4,0482 4,0530 4,0494 с, (А) 4,0548 4,05123 4,0456 4,0482 4,0530 4,0494 V, (A 3 ) 66,669 66,499 66,217 66,346 66,577 66,60 * (4-787) Natl.Bur.Stand.(U.S.),Circ.539, Swanson, Tatge., I, 11, 1953 (База данных порошковой дифрактометрии PDWin 3.0). Сопоставляя дифракционную картину и расчетные данные тонкой структуры обоих компонентов, можно предположить, что после γ-облучения с дозой 1*10 6 рад происходит частичный отжиг дефектов (рис.3), однако размеры кристаллитов обоих компонентов сохраняют наноструктурное состояние (рис. 2). Применяя для γ-облучения предварительно механоактивационные порошковые смеси, находящиеся в неравновесном состоянии, с избыточной энергией, за счет наличия