Obrabotka Metallov 2013 No. 4

ОБРАБОТКА МЕТАЛЛОВ № 4 (61) 2013 88 ТЕХНОЛОГИЯ Рис. 3 . Топография поверхности реза для технологии HiFocus F для толщины 3 мм Анализ полученных данных показал, что наи- меньшее значение шероховатости поверхности соответствует технологиям раскроя HiFocus и HiFocus plus . Причем для технологии HiFocus зна- чение шероховатости поверхности практически неизменно во всем диапазоне разрезаемых тол- щин. Очевидно, это может объясняться, с одной стороны, газодинамикой процесса в зоне рас- кроя и равномерным удалением расплавленного материала из отмеченной области, а с другой – относительно узким диапазоном толщин (от 3 до 8 мм) разрезаемого материала, характерным для данной технологии плазменной резки. В случае применения технологии HiFocus F шероховатость поверхности имеет наибольшие значения практически во всем диапазоне рас- сматриваемых толщин. Кроме того, для данной технологии наблюдается и значительный раз- брос показателей шероховатости поверхности. Для технологии HiFocus F в диапазоне толщин от 3 до 10 мм это связано, вероятно, с газоди- намикой плазменного потока, поверхностным натяжением жидкой фазы, особенностью ее удаления из зоны реза, технологической систе- мой и технологических параметров процесса обработки. Возможным объяснением изменения газоди- намики плазменного потока может служить раз- личие в размерах выходного канала сопла, а так- же расход и давление продуваемых газов через него для отмеченных технологий. Так, для тех- нологий HiFocus и HiFocus plus размеры диаметра выходного канала сопла составляют величину 0,8 и 1,2 мм соответственно, а для технологии HiFocus F – 1,4 мм. Увеличение данного размера приводит, с одной стороны, к возможности про- пускания больших токов, а следовательно, позво- ляет разрезать большие толщины, с другой – это приводит к нестабильности газодинамики в зоне реза и, как следствие, к повышению шероховато- сти поверхности. Кроме этого для технологии HiFocus F на поверхности реза в диапазоне толщин от 3 до 10 мм наблюдается образование волнистости, фрагменты волн которых показаны на рис. 3 и 4. В этом случае при использовании комп- лекса для изучения топографии поверхности NewView 7300 результатом является значение шероховатости поверхности и волнистости. Для отдельной оценки волнистости поверхно- сти применялся профилограф – профилометр 252 (рис. 5).