Obrabotka Metallov 2012 No. 4

ОБРАБОТКА МЕТАЛЛОВ № 4 (57) 2012 75 МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ Рис. 2 . Электронно-микроскопические изображения шлифов чугуна марки СЧ25: а-в – без добавления модифицирующей смеси «МС»; г-е – с добавлением модифицирующей смеси «МС» и восстановителя Na3AlF6; ж-и – с добавлением модифицирующей смеси «МС» и восстановителя СаС2 Анализ поверхности методом РЭМ пока- зывает, что в твердых растворах α-Fe и Fe 2 Si присутствуют такие химические элементы, как С, О и Р, которые даже при небольшом количестве приводят к изменению параметров кристаллической решетки α-Fe и Fe 2 Si. Стоит отметить, что по данным РЭМ элементы распределены по матрице равномерно. Согласно элементному составу чугуна марки СЧ25 (см. табл. 1) в α-Fe и Fe 2 Si могут находиться также и другие химические элементы: Mn, Cr, S, Cu, Al, Ni, V, Ti, суммарное содержание которых составляет 1,18 %, что также влияет на параметры кристаллической решетки. Однозначно определить влияние каждого из вышеперечисленных элементов в твердых растворах сложно. В исходном сплаве присутствует еще одна фаза – углерод в виде пластинчатого графита (C) (рис. 2, а–в ). Эта фаза обладает объемноцентри- рованной гексагональной кристаллической ре- шеткой. Параметры кристаллической решетки графита, определенные методом РФА, приведены в табл. 2. Значения параметров кристаллической решетки а и с графита практически совпадают с табличными данными (табл. 2) [6, 7]. Объемная доля фазы составляет ~2,8 %. На рис. 2, а, б, в представлены РЭМ- изображения поверхности чугуна марки СЧ25 без добавления модифицирующей смеси ( Ч-1 ), на которых видно, что структура чугуна состо- ит из металлической основы с включениями графита пластинчатой прямолинейной формы (фаза С). Особый интерес имеет микрострук-