ОБРАБОТКА МЕТАЛЛОВ Том 24 № 3 2022 92 МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ заключалась в их пластической деформации методом холодной прокатки со степенью обжатия 20 % и длительном низкотемпературном отжиге (400 °C в течение 24 часов). Более высокие температуры отжига не использовались по той причине, что для некоторых высокоэнтропийных сплавов системы AlxCoCrFeNi характерно наличие фазовых переходов с образованием упорядоченных B2 и L12 фаз (пространственная группа симметрии 3 ) Pm m при температурах, превышающих 400 °C [6, 9]. Результаты рентгеноструктурного анализа свидетельствуют о том, что такая термомеханическая обработка способствовала релаксации структуры и не привела к образованию новых фаз (рис. 1). После термомеханической обработки слитки высокоэнтропийного сплава подвергались пластической деформации по схеме холодной прокатки со степенями обжатия 20; 40; 60 и 80 %. Степень обжатия заготовок за один проход составляла ~ 2 %. Из полученных описанным методом материалов вырезались образцы для проведения рентгеноструктурных и дюрометрических исследований. В рамках настоящей работы исследовались структура и свойства материалов вдоль продольного RD (англ. rolling direction) и поперечного TD (англ. transverse direction) направлений проката. Рентгеноструктурный анализ объектов проводился методом дифракции синхротронного излучения по схеме «на просвет» на линии P07 (The Hight Enegry Materials Science) источника Petra III Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY (г. Гамбург, Германия). Длина волны используемого излучения составляла 0,14235 нм, что соответствует энергии 87,1 кэВ. Для записи дифракционных картин использовался 2D-сцинтилляционный детектор PerkinElmer XRD 1621 с разрешением 2048 × 2048 пикселей и площадью экрана 409,6 × 409,6 мм. Расстояние от исследуемого объекта до детектора составляло 1,05 м. Полученные дифракционные картины приводились к одномерному виду путем азимутального интегрирования с использованием библиотеки pyFAI [10]. Примеры полученных двумерных и одномерных дифракционных картин представлены на рис. 1. Для проведения профильного анализа одномерные дифрактограммы описывались функцией вида (2 ) pattern I 10 7 i 1 i 0 (2 ) (2 ) , j i j I a (1) в которой первая сумма определяет вклад в интенсивность десяти дифракционных максимумов, а вторая сумма – это полином 7-го порядка, описывающий фон. В свою очередь, профиль каждого из дифракционных максимумов описывался функцией псевдоВойта, которая в общем виде записывается как 0 (2 ) (2 ) i I I L (1 ) (2 ) , G (2) где 0 I – значение максимальной интенсивности дифракционного максимума; – вклад функции Лоренца; (2 ) L и (2 ) G – функции Лоренца и Гаусса соответственно, которые, в свою очередь, имеют вид (2 ) L 2 2 2 0 0, 5 [1 ] 0, 5 [1 ] (2 2 ) A A (3) и (2 ) G 2 0 2 (2 2 ) exp , (0, 5 [1 ] / ln 2) A (4) где 0 2 – угловая позиция, соответствующая максимальному значению интенсивности пика; – ширина на половине высоты дифракционного максимума; A – параметр асимметрии дифракционного максимума ( 1 1) A . Учет инструментального вклада осуществлялся при последующих расчетах с использованием функции Каглиоти, параметры которой были определены путем анализа дифрактограммы образца ВЭС после отжига.
RkJQdWJsaXNoZXIy MTk0ODM1