ОБРАБОТКА МЕТАЛЛОВ Том 24 № 3 2022 94 МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ Рис. 1. Дифрактограммы сплава Al0,3CoCrFeNi после литья и пластической деформации (а); низкотемпературного отжига (б); холодной прокатки со степенями обжатия 40 % (в) и 80 % (г) Fig. 1. X-ray diffraction patterns of the Al0.3CoCrFeNi high-entropy alloy in pre-deformed state (a); after annealing at 400 C (б); after cold rolling with 40 % (в) and 80 % (г) reduction а б в г после деформации и низкотемпературного отжига характеризуется более равномерной пространственной ориентацией кристаллитов (о чем свидетельствует наличие полных дифракционных колец) и низким уровнем микронапряжений (о чем говорит малая ширина дифракционных максимумов). Последующая пластическая деформация методом холодной прокатки (рис. 1, в, г) приводит к существенному уширению дифракционных максимумов, что свидетельствует о повышении количества дефектов кристаллического строения. Проведение профильного анализа дифрактограмм пластически деформированных сплавов позволяет оценить степень дефектности кристаллической структуры исходя из параметров дифракционных максимумов. Так, оценка изменения ширины дифракционных максимумов с использованием классического метода Вильямсона–Холла (см. уравнение (5)) позволяет определить относительные искажения кристаллической решетки и размер ОКР. Однако известно, что данный метод является наименее точным, что выражается наличием существенной ошибки при аппроксимации экспериментальных результатов. Поэтому при анализе данных рентгеновской дифракции методами профильного анализа часто вносятся корректировки, позволяющие учесть анизотропию свойств кристалла. Наиболее простым способом учета анизотропии служит введение в расчет модуля упругости для кристаллографических направлений, которые являются нормалями к плоскостям ( ) hkl анализируемых дифракционных рефлексов (см. урав-
RkJQdWJsaXNoZXIy MTk0ODM1