ОБРАБОТКА МЕТАЛЛОВ Том 26 № 3 2024 202 МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ Т а б л и ц а 2 Ta b l e 2 Элементный анализ сплава AlSiMg по суммарному спектру из области картирования Elemental analysis of the AlSiMg alloy by the total spectrum from the mapping area Элемент Весовой % Атомный % Al K 92,65 92,86 Si K 6,95 6,69 Mg K 0,40 0,45 Рис. 10. Светлопольное изображение участка анализа (а); искомое ПРЭМ-изображение участка анализа (б); ПРЭМ-изображение с нанесенными данными содержания элементов (в); распределение элементов по треку (г–е) Fig. 10. A bright fi eld image of the analysis area (а), the desired TSM image of the analysis area (б), a TSM image with plotted element content data (в), the distribution of elements along the track (г–е) Для подтверждения локальной неоднородности элементного состава также было проведено исследование элементного состава по заданной линии. Его результаты приведены на рис. 10. Характер распределения элементов аналогичен картированию – на границах зерен наблюдается уменьшенное содержание Al и повышенное содержание Si. Как видно, концентрация Mg при исследовании данным методом также неоднородна. Однако поскольку содержание Mg в составе мало (по данным элементного анализа, менее 0,5 масс. %), то нельзя точно это постулировать. На полученных оптимальных условиях СЛП из подготовленной смеси порошков был сделан образец сложной геометрической формы (рис. 11). а б в г д е
RkJQdWJsaXNoZXIy MTk0ODM1