OBRABOTKAMETALLOV Vol. 26 No. 3 2024 211 MATERIAL SCIENCE В используемые на источниках СИ монохроматоры входят узлы, одинаковые по назначению. Однако конструктивно монохроматоры друг от друга отличаются. Технические особенности монохроматоров обусловлены не только решаемыми на станции СИ задачами, но также величиной входящего теплового потока, системой охлаждения кристаллов и точностью их регулировки. Элементарные сведения о дифракции рентгеновского излучения В 1985 году Вильгельм Конрад Рентген, проводя эксперименты с трубкой Крукса, обнаружил неизвестное ранее излучение, которое он назвал Х-лучами. На рис. 2 представлена шкала длин волн и частот электромагнитного излучения, на которой выделен соответствующий рентгеновскому излучению условный диапазон, определенный в разное время на основании работ К. Рентгена, М. Лауэ, Ч. Баркла, Д. Томпсона и Г. Мозли. Рентгеновскую область часто делят на диапазоны жесткого (0,1 < λ < 10 Å), мягкого (10 < λ < 300 Å) и ультрамягкого (300 < λ < 1000 Å) излучения [34]. Данное разделение условно, однако оно важно с точки зрения физики процесса монохроматора, поскольку для этих диапазонов характерны различные показатели преломления, коэффициенты поглощения и особенности поляризации волн. От видимого света рентгеновское излучение отличается своей способностью проникать вглубь вещества. Свойствами рентгеновского излучения являются прямолинейность распространения со скоростью света, преломление на границах раздела сред, отражение и рассеяние на препятствиях, интерференция и дифракция, поляризация при рассеянии или прохождении через вещество, поглощение веществами, способность вызывать фотоэффект [3, 4]. Ранее отмечалось, что принцип действия монохроматоров основан на дифракции рентгеновского излучения. Первые эксперименты, связанные с этим физическим явлением, были выполнены в 1912 году Максом фон Лауэ и его молодыми сотрудниками П. Книппингом и В. Фридрихом. Простое условие, позволяющее определить угол, соответствующий дифракционному максимуму, было получено английским физиком У.Л. Брэггом [3] и независимо от него российским ученым Г.В. Вульфом: 2 sin hkl d n θ = λ. (1) Рис. 2. Шкала электромагнитного излучения. Серым цветом отмечена область синхротронного излучения Fig. 2. The scale of electromagnetic radiation. The area of synchrotron radiation is marked in gray Рис. 3. Схема дифракции рентгеновского излучения на атомных плоскостях кристалла и иллюстрация угловой расходимости пучка Fig. 3. Schematic of X-ray diff raction on the atomic planes of the crystal and illustration of the angular divergence of the beam
RkJQdWJsaXNoZXIy MTk0ODM1