OBRABOTKAMETALLOV Vol. 27 No. 1 2025 53 TECHNOLOGY Рис. 3. Поля распределения температур при образовании лунки: а – 40Х, min; б – 40Х, max; в – 35ХГС, min; г – 35ХГС, max Fig. 3. Temperature distribution fi elds during crater formation: a – 0.4 C-Cr, min; б – 0.4 C-Cr, max; в – 0.35 C-Cr-Mn-Si, min; г – 0.35 C-Cr-Mn-Si, max а б в г КПЭЭО, в зависимости от режимов обработки и свойств обрабатываемого материала. В табл. 3 представлены теоретические значения толщины белого слоя, образованного в процессе КПЭЭО, полученные на основе анализа рис. 3. На рис. 4 представлены изображения, полученные в результате металлографического исследования микрошлифов образцов сталей 35ХГС и 40Х после копировально-прошивной обработки на максимальном и минимальном режимах. Т а б л и ц а 3 Ta b l e 3 Теоретические значения толщины белого слоя Theoretical values of white layer thickness Режим КПЭЭО Среднее значение толщины белого слоя, мкм 40Х 35ХГС Min 25 20 Max 80 60
RkJQdWJsaXNoZXIy MTk0ODM1