OBRABOTKAMETALLOV Vol. 27 No. 2 2025 17 TECHNOLOGY пов с закругленными пиками и впадин с большим преобладанием выступов. Наибольшая высота профиля Rmax = 174 мкм. После ХО профиль имеет схожий рельеф, но с меньшей высотой выступов и немного большей шириной впадин. Среднее арифметическое отклонение профиля Ra снижается с 28,6 до 23,2 мкм. Ультразвуковые методы обработки приводят к значительным изменениям профиля как по форме профилограммы, так и по числовым значениям параметров шероховатости. Так, после КЭО + ХО профиль поверхности выравнивается и состоит из близких по размеру выступов и впадин, что связано с отсутствием на поверхности дефектов сферической формы. Параметр Ra уменьшается до 19,3 мкм. Профиль после КАО + ХО отличается меньшим количеством впадин и бо́льшим количеством деформированных абразивом выступов; Ra = 16,2 мкм, что составляет снижение на 43,5 %. Профилограмма после данного способа обработки также имеет наименьшую высоту 89 мкм. Рельеф поверхности после ультразвукового ППД за счет наличия больших ровных площадок имеет наименьшее значение Ra = 13,6 мкм, но при этом перепад между высотой выступов и глубиной впадин доходит до 98 мкм, что больше, чем при КАО + ХО. Это показывает, что совместное кавитационно-абразивное воздействие является более эффективным способом уменьшения выступов поверхности. Оценка изменений субмикроструктуры Объемные изображения топографии поверхностей размером 308×308 нм (рис. 11) получены при проведении атомно-силовой микроскопии (АСМ) методом постоянной высоты (Constant Height), заключающимся в поддержании постоянного расстояния между кантилевером и исследуемой поверхностью в процессе сканирования. По данным изображениям можно судить о механизмах образования исследуемых поверхностей. Субмикроструктура контрольного образца имеет слегка округлую форму с волнообразными ступенями, что, вероятно, является следствием кристаллизации сферической частицы. На АСМ-изображении после ХО показан участок с границей между сферой (правый угол изображения), имеющей ярко выраженные ступени после травления, и частью поверхности, полученной при нормальной кристаллизации дорожки расплава. После КЭО + ХО полосчатая субмикроструктура является следствием направленного теплоотвода при кристаллизации дорожки расплава. Рис. 11. АСМ-изображения поверхностей 308×308 нм Fig. 11. AFM images of surfaces (308×308 nm)
RkJQdWJsaXNoZXIy MTk0ODM1