ОБРАБОТКА МЕТАЛЛОВ Том 28 № 3 2026 46 ТЕХНОЛОГИЯ Все эксперименты проводили при помощи волоконного лазера SEKIRUS SFL6000 (SEKIRUS, 6 кВт, КНР) с кольцевым соплом для наплавки COX3 (Halden) и системой охлаждения, установленного на робота KAWASAKI RS020N AC01 (Kawasaki Heavy Industries, Япония), с 5-осевым позиционером и подачей материала через порошковый питатель ECPF-DCM-D12-P2 (Changzhou Xiyu Equipment Co., Ltd., КНР). В качестве транспортирующего газа использовали аргон с расходом 0,4 мПа (рис. 2). Для оптимизации режимов наплавки была изготовлена серия из 40 образцов одиночных валиков без перекрытия длинной 100 мм. Скорость сканирования лазера (V) изменяли в диапазоне 20…100 мм/мин, мощность лазера (P) Рис. 1. Внешний вид порошка ПН85Ю15М Fig. 1. Appearance of powder ПН85Ю15М (85% Ni-15% Al) Рис. 2. Внешний вид роботизированного комплекса для лазерной наплавки Fig. 2. Appearance of a robotic complex for laser cladding варьировали в пределах 1500…3900 Вт, пятно лазера для наплавки на представленном устройстве по умолчанию является песочными часами, при установке фокуса на расстоянии 1,5 мм от подложки их ширина составляла 5 мм, а длина 2 мм. Подача порошка (f) была в пределах 24…69 г/мин. Для каждого валика длиной 100 мм были подсчитаны энерговклад лазера покрытия по формуле E = (100/V60)P и удельный энерговклад на единицу массы G = E/f (100/V). Металлографические шлифы травились в соответствии со стандартом ASTM E407. Для выявления общей структуры использовался раствор уксусной кислоты, HNO3 и HCl в объемном соотношении 10:10:15. После травления поперечные сечения одиночных валиков и многослойных образцов наплавки были подвергнуты металлографическому анализу при помощи оптического микроскопа SIAMS MT-24RF с программным комплексом SIAMS 800, (SIAMS, Россия). Микротвердость поперечного шлифа наплавленного покрытия исследовали на твердомере Nexus 4000 методом Виккерса при нагрузке 300 г (2,942 Н) и времени выдержки 15 с. Измерения выполняли с шагом 0,12 мм от поверхности покрытия до подложки. Каждый показатель твердости усредняли по трем замерам в одной точке. Микроструктурные исследования выполняли на сканирующем электронном микроскопе Mira 3 (Tescan, Чехия), оснащенном системой энергодисперсионной спектроскопии X-Max 50 с программным обеспечением AZtec (Oxford Instruments, Великобритания). SE- и BSE-изображения и анализ элементного состава
RkJQdWJsaXNoZXIy MTk0ODM1